AFM : des déplacements maîtrisés au nanomètre près

Maintenir la pointe d’un microscope AFM en appui sur un nanofil suspendu de nitrure de gallium (GaN) de 30 nm de diamètre, pour dix mesures électromécaniques successives sur toute sa longueur (1 micron) : c’est la prouesse que vient de réaliser une équipe IMEP-LAHC/LTM. Les résultats obtenus sont à la mesure de ses efforts : à cette échelle nanométrique, le nitrure de gallium a révélé un coefficient piézoélectrique 10 à 100 fois plus élevé que le matériau massif. Ce résultat a suscité l’intérêt d’un industriel toulousain et motivé le dépôt d’un projet ANR. Les chercheurs sont prêts à mener d’autres observations : il leur suffit maintenant d’une demi-heure pour mettre en place le contrôle du déplacement sur une nano-poutre.

Contact : laurent.montes@minatec.inpg.fr

Facebook

Twitter