Actualités :

La chimie et la morphologie d’un dispositif nanoélectronique peuvent maintenant être caractérisées en 3 D sur la PFNC, avec une résolution spatiale inférieure à 2 nm. Une équipe Leti – CNRS – STMicroelectronics vient de le démontrer pour un transistor 45 nm. Les images obtenues en combinant microscopie électronique et sonde atomique tomographique sont des […] >>

Une équipe Leti a réalisé une mémoire à stockage de charge de 16 nm, la plus petite jamais citée dans la littérature : jusqu’ici, les dispositifs les plus avancés mesuraient 40 nm. De plus, ces objets inédits ont démontré leur fonctionnalité. Leur stabilité en cyclage, leur tenue en température et leur faible consommation les destinent […] >>

Les antennes de téléphones mobiles deviennent si petites qu’elles n’arrivent plus à s’adapter aux bandes de fréquence des différents réseaux. Résultat : le débit et la fiabilité des communications en souffrent. Ce constat a décidé le Leti à développer une antenne miniature auto-adaptative en impédance, qui couvre déjà les standards GSM, DCS, UMTS, WIFI et […] >>

Une conférence intitulée « Opportunités offertes à l’industrie par les techniques de caractérisation avancée » est organisée le 14 novembre dans le cadre de l’IRT Nanoelec sur le site de l’Institut Laue Langevin. Bien qu’ouverte aux chercheurs et aux étudiants, cette journée s’adresse en priorité aux industriels qui souhaitent aller plus loin dans la connaissance […] >>

Le CESTI Leti, Centre d’Evaluation de la Sécurité des Technologies de l’Information, acteur du schéma de certification français, a été récemment accrédité EAL*7. Il peut désormais évaluer le niveau de sécurité de tous produits de type carte à puce avec les plus fortes exigences définies par le standard international des Critères Communs. Ce niveau d’exigence […] >>