Les circuits sécurisés scrutés au transistor près

Il est désormais possible d’analyser les défaillances d’un circuit sécurisé au niveau de précision ultime, celui du transistor unique. A condition d’avoir accès à l’une des 4 lignes de rayons X nanofocalisés qui existent dans le monde… Une équipe du CESTI*-Leti a eu cet accès au Synchrotron de Grenoble et a obtenu des résultats inédits.
Le faisceau nanofocalisé permet en effet de placer un seul transistor en état permanent bloqué ou passant, afin de déterminer son rôle dans la défaillance à analyser. Et pour revenir à la normale, il suffit d’un banal recuit d’une heure à 150 °C. De plus, cette méthode d’investigation a l’avantage majeur d’être 100 % non invasive pour le circuit et son boîtier. Les travaux du CESTI ont obtenu le prix du meilleur article à la récente conférence internationale CHES à Taïwan.

* Centre d’évaluation de la sécurité des technologies de l’information

Contact : jessy.clediere@cea.fr

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