Actualités : Technologies micro et nano
08 octobre 2019
Caractérisation fine de microphones MEMS
Cadre et contexte : Les microphones MEMS actuels ont atteint leurs limites physiques. Les performances stagnent depuis plusieurs années alors que le marché des smartphones et des assistants personnels demande plus de dynamique et un bruit plus bas. Une rupture technologique est nécessaire, et cest dans ce cadre que le Léti a développé un MEMS […] >>
08 octobre 2019
Capteurs télé-alimentés
Cadre et contexte Le besoin de capteurs interrogeables à distance permet denvisager de nouvelles applications aussi bien en aéronautique (le monitoring daile davion, pales de turbine), lénergie (mesures sur des dispositifs tournants), le génie civil (surveillance douvrage) que des applications grand public comme les écrans, la santé (patch médical) et également les domaines de la […] >>
08 octobre 2019
Hybrid CMOS-RRAM Neuron circuits
Context : Brain-inspired architectures in neuromorphic hardware are currently subject to intensive research as an alternative to the limits of traditional computer organization. The remarkable computing performance and efficiency of biological nervous systems are widely attributed to the co-localization of memory and computation spatially through the structure. Re-configurable non-volatile resistive memories (RRAMs) can be incorporated […] >>
08 octobre 2019
Modulation des niveaux de résistance dans une mémoire RRAM pour des applications neuromorphiques
Contexte: Depuis les dernières 50 années, les processeurs sont basés sur larchitecture de von Neumann et les progrès dans lintégration à très grande échelle ont permis de réaliser cette architecture computationnelle sur un substrat technologique adéquat. Cependant aujourdhui la miniaturisation des composantes électroniques nest plus suffisante pour augmenter les performances et réduire la consommation de […] >>
08 octobre 2019
RF Characterization and reliability of a power amplifier cell under large signal operation
Context : In an RF front end module, the power amplifier is the device seeing the harshest conditions with regard to reliability (temperature, voltage). The lifetime prediction of such devices needs appropriate testing and modeling as the current reliability models are solely based on DC measurements. An RF-based model is then mandatory to accurately estimate […] >>