Actualités : Technologies micro et nano
08 octobre 2019
Modulation des niveaux de résistance dans une mémoire RRAM pour des applications neuromorphiques
Contexte: Depuis les dernières 50 années, les processeurs sont basés sur larchitecture de von Neumann et les progrès dans lintégration à très grande échelle ont permis de réaliser cette architecture computationnelle sur un substrat technologique adéquat. Cependant aujourdhui la miniaturisation des composantes électroniques nest plus suffisante pour augmenter les performances et réduire la consommation de […] >>
08 octobre 2019
RF Characterization and reliability of a power amplifier cell under large signal operation
Context : In an RF front end module, the power amplifier is the device seeing the harshest conditions with regard to reliability (temperature, voltage). The lifetime prediction of such devices needs appropriate testing and modeling as the current reliability models are solely based on DC measurements. An RF-based model is then mandatory to accurately estimate […] >>
08 octobre 2019
Characterization and reliability of RF switches, study of the substrate impact on performance.
Context: Incoming 5G imposes new challenges on RF devices performance such as operating at millimeter-wave frequencies and harsh constraints on linearity to avoid spectral pollution in the adjacent carriers. The best way to efficiently reduce the level of harmonics is to boost the resistivity of the semiconductor beneath the buried oxide. In SOI (Silicon on […] >>
08 octobre 2019
Transfert de matériaux 2D pour des applications de la microélectronique
Cadre et contexte: Depuis la découverte du graphène (prix Nobel 2010), lengouement pour les matériaux 2D na cessé de croitre. En effet, ces matériaux présentent des propriétés très particulières et sont donc des candidats sérieux pour la miniaturisation de lélectronique et léconomie dénergie ainsi que pour les applications flexibles. Le stage porte sur létude du […] >>
08 octobre 2019
Phase-Change Memory for 28nm and beyond: New Frontiers and Innovations at the Limits of the Non-Volatile Memory Scaling Roadmap for the Automobile Microcontrollers of Tomorrow
The near future is Internet of Things (IoT), with the need of a data storage infrastructure allowing Big Data processing and Artificial Intelligence (AI) applications. The Memory Laboratory in CEA-LETI is developing the next generations of Non-Volatile Memories, and among them Phase-Change Memory (PCM) is the most mature one. PCM demonstrated capability of high data […] >>