Du ToF-SIMS tout en douceur pour les matériaux organiques

Les matériaux organiques souffrent de leur passage en spectrométrie ToF-SIMS, en raison des fortes énergies d’impact subies lors du bombardement par la source ionique. Rien de tout cela avec le spectromètre ToF-SIMS à source de clusters d’argon dont la PFNC dispose depuis peu. L’énergie du bombardement ne dépasse pas quelques eV par atome. Le matériau n’est quasiment pas dégradé et les analyses gagnent en fiabilité.

Plusieurs caractérisations ont été menées, notamment sur l’efficacité de couches barrière ou sur un empilement OLED complet.

Il reste à développer des protocoles d’analyse complets. Mais de nouvelles possibilités s’ouvrent pour les systèmes organiques. Le ToF-SIMS fournit des informations moléculaires (composition en 3D, dégradation chimique), jusqu’à des profondeurs de plusieurs centaines de nanomètres.

Contact : jean-paul.barnes@cea.fr

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