Le top modèle de la caractérisation sur la PFNC !

Catégorie(s) : Actualités, MINATEC, Recherche

Publié le : 7 janvier 2010

D’ici août 2010, la Plateforme de Nano Caractérisation sera équipée d’un microscope électronique en transmission (MET) permettant une imagerie à l’échelle atomique avec une résolution très inférieure à 0,1 nanomètre. S’inscrivant dans la logique d’investissement de la PFNC, cette acquisition est totalement financée par le Programme national RTB (Recherche Technologique de Base) du ministère de la Recherche.

Grâce aux nouvelles technologies de correction d’aberration optique dont il est muni, le FEI TITAN PICO permettra une meilleure caractérisation des nanomatériaux et des nanodispositifs. L’installation de cet équipement unique en France sera accompagnée par la mise en place d’une collaboration avec l’équipementier FEI Company et la création d’un laboratoire commun avec le CEA-Leti.

Contact : pascale.bayle-guillemaud@cea.fr

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