Rien de tel que les rides pour prévenir la contrefaçon

Le CEA –Leti et le laboratoire bordelais CELIA* ont publié dans Advanced Materials un procédé de génération de motifs aléatoires de taille micrométrique. Il consiste à faire fondre par impulsion laser des couches minces de chalcogénure amorphe à base de germanium. On obtient ainsi des motifs constitués de « rides » de quelques dizaines de nanomètres de haut et de périodicité micrométrique. Ils sont impossibles à reproduire à l’identique, donc uniques. L’idéal pour une étiquette anti-contrefaçon à appliquer sur un processeur, un bijou, une montre ou tout objet de valeur.

Le motif complet mesure 50 microns : il est assez petit pour rester discret, et assez grand pour être lu avec un smartphone équipé d’un objectif. Des échanges sont en cours avec des industriels en vue d’un transfert de technologie.

Contact : pierre.noe@cea.fr

* Centre lasers intenses et applications – Université Bordeaux CEA CNRS UMR 5107

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