Actualités : Nanocaractérisation

26 août 2022

Dispositifs photoniques IV-IV à déformation pilotable : application à l’émission et la détection de lumière

La déformation de la maille cristalline d’un semi-conducteur est un outil très puissant permettant de contrôler de nombreuses propriétés telles que sa longueur d’onde d’émission, sa mobilité … Un enjeu de premier plan est de pouvoir générer cette déformation dans des gammes importantes (multi%), et de manière réversible et contrôlée. L’amplification locale de la déformation […] >>

15 décembre 2020

Développement des techniques de Microscopie à Force Atomique pour la caractérisation de matériaux piézo-électriques semi-conducteurs – Applications en conversion d’énergie

Description du projet : Les nanofils (NF) piézo-électriques semi-conducteurs (GaN et ZnO entre autres) présentent des propriétés piézoélectriques améliorées par rapport aux couches minces et au matériau massif, du fait de leur plus grande flexibilité et de leur sensibilité à des forces plus faibles. Une amélioration intrinsèque des coefficients piézoélectriques a également été identifiée par […] >>

15 septembre 2017

Stage Post-doctoral : Surfaces multi-architecturées à mouillabilité contrôlée

Stage Post-doctoral : Surfaces multi-architecturées à mouillabilité contrôlée Contexte du projet : Ce stage post-doctoral est financé par le labex CEMAM. Les surfaces à mouillabilité contrôlée présentent un grand intérêt dans de nombreux domaines applicatifs tels que l’auto-nettoyage, l’antibuée, la captation d’eau depuis l’atmosphère ou encore la prévention du développement bactérien. Notre groupe développe depuis […] >>
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