Actualités : Optique
09 novembre 2020
Imagerie ellipsométrique pour la caractérisation de réseaux de nanostructures à base de GaN
Contexte : La croissance par épitaxie d’empilements de semiconducteurs III-V à base de GaN est limitée par un fort taux de dislocations lorsque réalisée sur substrat Silicium. Il est nécessaire de réduire ce taux de défauts pour la réalisation de μleds. La croissance localisée de GaN est sensée réduire la densité de dislocations, mais a […] >>
25 mai 2020
Analyse et contrôle de bactéries par microcavité optique
La pression de radiation est la force exercée par la lumière lorsqu’elle rencontre ou traverse un objet. Cette force si petite soit-elle peut permettre de déplacer ou manipuler, à la manière d’une mini pince, des objets de dimension micrométrique. Généralement mis en œuvre au travers d’un microscope, on parle alors de pince optique. Le laboratoire […] >>