Attaques par rayons X de circuits intégrés nouvelle génération

Le laboratoire CESTI situé à Grenoble est responsable de l’évaluation de sécurité de produits (commerciaux ou prototypes). Dans le cadre de ces évaluations de nombreux tests peuvent être exécutés dont ceux visant à observer le comportement de la cible lors d’injection de fautes dans les circuits intégrés. L’injection de faute consiste à perturber le système par différents moyens afin d’obtenir des comportements différents que ceux attendus et donc potentiellement contourner des contre-mesures de sécurité.

Le CESTI est en constante recherche de nouveaux chemins d’attaques, et parmi ceux-ci, les attaques par rayons X, pour lesquelles le CESTI a été précurseur. Le laboratoire a réussi à démontrer la possibilité d’attaques RX en modifiant des cellules mémoires ou des transistors uniques avec un faisceau synchrotron nano-focalisé.

Afin de continuer à avancer sur des attaques réalistes et les développer sur des composants de dernière génération, la thèse se propose d’explorer les limites intrinsèques, les applications potentielles et les effets physiques associés à ces perturbations issues de rayonnements ionisants.

La thèse comportera une partie expérimentale, en utilisant le faisceau de l’ESRF ou en diminuant le pouvoir de l’attaquant en utilisant un générateur X de laboratoire, pour attaquer divers types de composants, et elle inclura également une partie plus théorique avec de la simulation pour comprendre les effets physiques en collaboration avec l’ONERA et une analyse de nouveaux chemins d’attaque possibles avec ces faisceaux de rayons X.

L’objectif de la thèse sera d’obtenir une attaque réelle sur composants récents en réduisant au maximum le pouvoir de l’attaquant, ainsi que de cerner de la manière la plus exhaustive la menace que pourrait constituer des attaques par faisceaux ionisants. Une ouverture vers d’autres domaines tels l’analyse de défaillance, le durcissement des circuits pour applications spatiales sera possible.

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