Un nouveau diffractomètre X pour INAC et l’Institut Néel

Dans le cadre d’un projet commun, INAC et l’Institut Néel disposent depuis quelques mois d’un nouveau diffractomètre X. Avec sa très haute résolution – 3 millièmes de degré – et ses deux configurations dans le plan et hors du plan, il est optimisé pour l’étude des couches minces et objets nanométriques. Il est équipé d’un four pouvant atteindre 1100°C.
Il rendra possibles en laboratoire des études qui jusque-là nécessitaient une source synchrotron. Des observations ont déjà été menées sur des billes d’or dont le volume équivalent est inférieur à une monocouche de 3 angströms, ainsi que sur des films minces organiques d’une vingtaine de nanomètres d’épaisseur. Le Labex LANEF a cofinancé cet équipement à hauteur de 200 000 euros.

Contact : edith.bellet-amalric@cea.fr

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