Vers une caractérisation de proximité pour les matériaux 2D

Pas facile d’évaluer rapidement le potentiel technologique des matériaux 2D alors qu’il faut pour certaines mesures-clés une ligne de lumière du Synchrotron ! Les chercheurs du projet CEA Cascade* ont tenté une autre approche. Ils ont combiné deux méthodes d’analyse de la PFNC**, la micro-photoluminescence et la microscopie par photoémission dans l’espace réciproque. Résultat : des mesures (nature du gap, mobilité des trous) au moins aussi fiables qu’au Synchrotron.

Ce succès va accélérer l’optimisation de procédés pour réaliser des composants nanoélectroniques avec des matériaux 2 D. Ces derniers, forts de leur épaisseur d’une seule couche atomique, ouvrent de nouvelles possibilités de miniaturisation des circuits. L’EPFL (Lausanne) compte utiliser avec le Leti cette nouvelle méthode d’analyse combinée.

* mené par le Leti, INAC et Iramis, financé par le Programme Transversal Nanoscience
** Plateforme de nanocaractérisation

Contact : olivier.renault@cea.fr

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